16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價

賽默飛FEL 部分配件耗材

16830 離子源

4035 273 12631   拔出極

4035 273 6 7441 光闌

4035 272 35991 抑制極

4035 272 35971  拔出極

1058129   拔出極

1301684  Suppressor 抑制極

1096659 Aperture 光闌

1346158  PT 

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統，可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能 。Scios 2 DualBeam 通過創新的功能設計提高了通量、精度以及易用性，是滿足科學家和工程師在學術、政府以及工業研究領域高級研究和分析需求的理想解決方案。

高質量亞表面和 3D 信息

通常需要進行亞表面或三維表征以更好地理解樣品的結構和性質。Scios 2 DualBeam 及可選配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件可提供高質量、全自動的多模式 3D 數據集采集，包括用于最大材料對比度的背散射電子 (BSE) 成像、用于組成信息的能量色散光譜 (EDS) 以及用于微觀結構和晶體學信息的電子背散射衍射 (EBSD)。與 Thermo Scientific Avizo 軟件組合使用后，Scios 2 DualBeam 可為納米級的高分辨率、高級 3D 表征以及分析提供的工作流程解決方案。

以超高分辨率提供完整的樣品信息

創新的 NICol 電子色譜柱為系統的高分辨率成像和檢測能力提供了基礎。它適用于多種工作條件，無論是在 30 keV 的 STEM 模式下（訪問結構信息）還是以較低能量（獲得無電荷的詳細表面信息）運行，都可以提供出色的納米級細節。Scios 2 DualBeam 具有的鏡筒內 Thermo Scientific Trinity 檢測系統，專用于同時采集角和能量選擇二級電子 (SE) 以及 BSE 成像數據。不僅可以快速訪問從上到下的詳細納米級信息，還可快速訪問傾斜的樣品或交叉切片的信息。可選配的透鏡下檢測器和電子束減速模式可以快速、便捷地同時采集所有信號，揭示材料表面或交叉切片中最小的特征。具有全自動對齊功能的 NICol 色譜柱，可獲得快速、準確、可重現的結果。

快速、便捷地制備高質量 TEM 樣品

科學家和工程師不斷面臨新的挑戰、需要對越來越復雜的樣品的更小特征進行高度局部表征。Scios 2 DualBeam 的創新與可選、易用和全面的 Thermo Scientific AutoTEM 4 軟件以及賽默飛世爾科技的應用專業知識相結合后，可支持客戶快速方便地制備用于多種材料的 自定義高分辨率 S/TEM 樣品。為了獲得高質量結果，需要使用低能量離子進行最終拋光，以盡可能減少對樣品表面的損壞。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離子束 (FIB) 鏡筒不僅能夠在高電壓下具有高分辨率成像和銑削能力，還具有良好的低電壓性能，能夠創建高質量的 TEM 薄片。

16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價

主要特點

快速、便捷的制備

使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質量、現場特定的 TEM 和原子探針樣品。

超高分辨率成像

使用在廣泛的樣品范圍（包括磁性和非導電材料）內具有性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱。

最完整的樣品信息

通過各種集成式色譜柱內和透鏡下檢測器獲得清晰、精確和無電荷的對比度。

高質量、多模式亞表面和 3D 信息

使用可選配的 AS&V4 軟件，通過精確靶向感興趣區域來獲得高質量、多模式亞表面和 3D 信息。

精確的樣品導航

高度靈活的 110 mm 載物臺和腔室內 Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機允許根據具體應用需求進行定制。

無偽影成像和構成圖案

具有專用模式，如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。

優化您的解決方案

靈活的 DualBeam 配置，包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式，可滿足具體的應用要求。

規格